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KOH YOUNG Zenith 2

應用領域:

電子裝配

半導體


主要優(yōu)點

 

主要優(yōu)點
無與倫比的真三維檢測性能
Zenith AOI 系列是業(yè)內唯一按照 IPC-610 電子組件可接受性標準要求進行檢測的解決方案。高迎基于定量真三維測量
的方法可以提供更大的檢測范圍,包括先進的高大元件檢測能力。
Zenith 2 提供了清晰、簡潔的 AOI 測量,可準確識別多種缺陷,比如:
漏焊、偏移、極性、翻件、OCV/OCR、爬錫、側立、翹腳、翹件、立碑、橋接等。
功能強大的側視相機
[選配方案] Zenith 2 功能強大的側視相機解決方案可快速識別、測量和分析隱藏或受遮蔽元件的潛在缺陷。

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