KOH YOUNG Neptune C+
應(yīng)用領(lǐng)域：
電子裝配
半導(dǎo)體
基于專利技術(shù)的厚度測量解決方案的革命性的真 3D 在線點膠
工藝檢測 (DPI)
主要優(yōu)點
主要優(yōu)點
精確厚度測量的挑戰(zhàn)
保形涂料可以保護(hù)和隔離電子電路，使其免受濕氣、碎屑、腐蝕和沖擊的影響，此外，還增加機(jī)械穩(wěn)定性，減
少故障和提高可靠性。這是一種廣泛應(yīng)用于汽車、LED、軍事、航空航天、醫(yī)療和移動等行業(yè)的技術(shù)。
大多數(shù)光學(xué)系統(tǒng)使用紫外光檢查表面是否存在，并使用量規(guī)測量特定點的材料厚度，這無法提供所需的精
度和可重復(fù)性。由于激光的穿透深度很淺，而且經(jīng)過的時間很長，檢驗透明材料是一個挑戰(zhàn)。測量三維形狀
的傳統(tǒng)的工具是激光共焦或電子顯微鏡系統(tǒng)。Koh Young革命性的Neptune C+為這些挑戰(zhàn)提供了終極解
決方案。